Cpk 지수 계산기

CpK 지수는 공정능력 분석의 주요 지표입니다. 이는 공정이 규격 한계에 비해 얼마나 잘 수행되는지를 측정합니다. 상한 규격 한계와 하한 규격 한계를 모두 평가함으로써, CpK 지수는 원하는 허용 오차 내에서 생산할 수 있는 공정의 능력에 대한 더 포괄적인 평가를 제공합니다.

CpK 공식

CpK 지수는 다음 공식을 사용하여 계산됩니다.

\[ C_{pk} = \min \left( \frac{USL - \text{평균}}{3 \times \sigma}, \frac{\text{평균} - LSL}{3 \times \sigma} \right) \]

여기서:

• USL은 상한 규격 한계입니다.
• LSL은 하한 규격 한계입니다.
• 평균은 공정 평균입니다.
• σ(시그마)는 공정의 표준 편차입니다.

계산 예시

USL이 10이고, LSL이 2이며, 공정 평균이 6이고, 표준 편차가 1이라면 CpK는 다음과 같습니다.

\[ C_{pk} = \min\left(\frac{10 - 6}{3 \times 1}, \frac{6 - 2}{3 \times 1}\right) = \min(1.33, 1.33) = 1.33 \]

활용 및 중요성

더 높은 CpK 값은 공정이 규격 한계 내에서 출력을 생산할 수 있는 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 일반적으로 1.33보다 큰 CpK 값은 대부분의 산업에서 능력이 있고 바람직한 것으로 간주됩니다.

FAQ

1. CpK 값이 1 미만이면 무엇을 의미합니까?

   • 공정이 능력이 없음을 나타내며, 상당한 비율의 출력이 규격 한계를 벗어날 수 있음을 의미합니다.

2. Cp와 CpK의 차이점은 무엇입니까?

   • Cp는 공정 잠재력을 측정하는 반면, CpK는 공정 잠재력과 중심성을 모두 고려하여 실제 성능을 더 현실적으로 측정합니다.

3. CpK 지수를 어떻게 개선할 수 있습니까?

   • 변동성을 줄이거나(표준 편차 낮추기) 공정 평균을 목표 값에 더 가깝게 이동시켜 CpK 지수를 개선할 수 있습니다.

이 계산기는 품질 관리, 생산 계획 및 지속적인 개선 이니셔티브에 도움이 될 수 있습니다.